主 页
|
关于我们
|
新 闻
|
产 品
|
应 用
|
联系我们
椭偏仪
可见近红外椭偏仪
SE800
SE800-E
SE850
SE805
SE800DUV
SE850DUV
SE800-300
太阳能电池膜厚测试系统
RM1000/RM2000
SE 400adv PV
SE800adv-PV
FTPadv inline
FTPadv inline NIR
SENSOL Man H
SenSol H
SenSol GH
SenSol V
激光椭偏仪
SE400adv
SE400-12
SE400-300
SE401
SE500adv
中红外椭偏仪
SENDIRA
SENDIRA-F
膜厚仪
FTPadv-1/FTPadv-2
RM1000/RM2000
刻蚀和沉积系统
等离子体刻蚀系统
Etchlab200
SI100
SI591
SI500
SI500C
SI 500 xx
SI 500-300
SI500-RIE
等离子体沉积系统
PE-ALD
SI500PPD
SI500D
多腔沉积刻蚀系统
SI591-1TL
SI591-1TC
SI591-1M
SI 500-1TL
SI 500-1TC
SI 500-D 1TL
SI 500-D 1TC
SI 500-1M
SI 500D 1M
SI 500 PPD M
SI 500 C TO C LOAD
首页
>
产品
>
椭偏仪
> 可见近红外椭偏仪
SE800-300 大面积固定角度光谱椭偏仪
厂商名称：
SENTHCH
商品名称：
大面积固定角度光谱椭偏仪
商品型号：
SE800-300
简单信息：
固定角度，高重复性，12英寸（300mm)大面积激光椭偏仪,选件同SE800选件。主要用于玻璃上透明薄膜,发光材料和半导体有机物,吸收和透明衬底上多层膜,玻璃上防反射膜，微电子应用：SOI/高K/低K。选件请参考SE800选件。
京ICP备09073740号 京公网安备110108003281号
