| 光谱椭偏仪 |
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| SENresearch –研发用高性能光谱椭偏仪系列，多角度入射，宽光谱范围（190-2500nm）。 |
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| SENDURO® - 全自动光谱椭偏仪，预先设定多层膜分析应用程序。 |
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| SE 900-50 - 红外光谱椭偏仪，宽光谱范围(2 μm - 25 μm). |
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| 激光椭偏仪 |
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| SE 400adv , SE 500adv -激光椭偏仪，多角度入射，先进的硬件和软件能够对薄膜厚度和光学常数进行最精确的测量，可分析单层膜和多层膜。 |
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| serPro – 经济型激光椭偏仪. |
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| 反射膜厚仪 |
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| FTPadvanced - 反射膜厚仪，测量透明和半透明膜的厚度和光学常数。 |
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| Reflectometer RM - 高精度宽波段反射膜厚仪，可测量薄膜厚度、光学常数，分析材料组分。 |
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| FTPadvanced 可升级大面积测量样品台。 |
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| 用于工业质量控制的椭偏仪、反射膜厚仪 |
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| SENDURO®; -全自动光谱椭偏仪，用于工业检测。 |
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| SE 801 -光谱椭偏仪，在线监控 |
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| 微细光斑光谱椭偏仪， 47 x 47 μm2 光斑直径. |
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| FTPadvanced带有大面积扫描样品台，用于质量控制 |
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| SE 400-STA – 紧凑型激光椭偏仪，自动校准，用于对金属条上薄膜的连续测量。 |
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